左右多層試驗(yàn)箱
Chamber試驗(yàn)箱 1269
本系列產(chǎn)品主要應(yīng)用半導(dǎo)體封裝測(cè)試,設(shè)備分左右兩個(gè)測(cè)試箱,可同時(shí)為多層芯片帶載測(cè)試,為芯片可靠性測(cè)試驗(yàn)證提供可靠環(huán)境。
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