LQ系列

應?于將?體（?腐蝕）降溫使?：如?燥壓縮空?、氮?、氬?等常溫?體通?到LQ系列設備內部，出來的?體即可達到?標低溫溫度，供給需求測試的元件或換熱器中。

LQ -40℃/-75℃

LQ -110℃

AES系列

射流式?低溫沖擊測試機給芯?、模塊、集成電路板、電?元器件等提供精確且快速的環境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估不可或缺的儀器設備。

溫度范圍：-120℃?+300℃；升降溫速率?常快速，+150℃?-55℃＜10秒；最??流量：30m3 /h；

實時監控被測IC真實溫度,
實現閉環反饋，實時調整?體溫度；升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠程控制；測試條件：環境溫度20℃，30m3/h,5Bar,壓縮空?或氮?；可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機，?于滿?較?測試功率需求

所有設備額定測試條件：?球溫度：20℃；濕球溫度：16℃。進?溫度：20℃；出?溫度：25℃。

AET系列

壓縮空?進??體快速溫變測試機，內置有?燥器，預先把?體?燥到露點溫度-70度以下，進?制冷加熱控溫輸出穩定流量壓?恒溫的?體，對?標對象進?控溫（如各類控溫卡盤、腔體環境、熱承板、料梭、腔體、電?元件等），可根據遠程卡盤上的溫度傳感器進??藝過程控溫，?動調節輸出?體的溫度。

所有設備額定測試條件：?球溫度：20℃；濕球溫度：16℃。進?溫度：20℃；出?溫度：25℃。

AI系列

運?于半導體設備?低溫測試。電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源；獨?的制冷循環?機組；可連續?時間?作，?動除霜，除霜過程不影響庫溫；模塊化設計，備?機替換容易（只要?臺備?機組即可）；解決頻繁開關?，蒸發系統結霜問題；蒸發系統除霜過程不影響。構筑?套?低溫恒溫室變的簡單（根據提供的圖紙，像搭積??般拼接好箱體，連接好電和?，設定好溫度即可?作）。

所有設備額定測試條件：?球溫度：20℃；濕球溫度：16℃。進?溫度：20℃；出?溫度：25℃。

壓縮空氣干燥器-DR系列

應用于傳感器、半導體制造、 薄膜和包裝材料執照、粉狀物料運輸 、噴涂系統、食品行業、制藥行業等需要實現-80℃低露點干燥和清潔的分布式氣源。額外過濾油分和顆粒物，氣流經過過濾等級 0.01 μm的預過濾器，防止干燥劑被塵埃和油（油會極大縮短干燥劑的使用壽命）污染壓縮空氣干燥器由多組灌裝了干燥劑的濾芯組成。氣霧狀壓縮空氣交替流經多組濾芯，空氣中的水分就會聚集在干燥器的表面；過濾過程達到預先確定的持續時間后氣流就會切換到其它濾芯，而一部分氣流 （沖放氣流）就會被用來重新發生第一個濾芯的干燥器；沖放氣流會釋放到大氣中；干燥劑的使用壽命約為 15000 個工作小時。

所有設備額定測試條件：?球溫度：20℃；濕球溫度：16℃。進?溫度：20℃；出?溫度：25℃。